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當(dāng)MCU死機(jī)了,先把硬件抓過(guò)來(lái)~

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做嵌入式軟件的朋友們也不要太高估了自己,雖然大家可以把硬件秀起來(lái),但是你拯救不了“無(wú)藥可救”的硬件。不要一頭扎到代碼的調(diào)試中,而是更多的分析現(xiàn)場(chǎng)和一些可能性的問(wèn)題,先排查一些更加常見(jiàn)且易查的硬件問(wèn)題,此時(shí)此刻示波器得秀起來(lái)~

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電源問(wèn)題

對(duì)于電源問(wèn)題引起的死機(jī),在這么多年軟件調(diào)試過(guò)程了至少有碰到過(guò)10次左右,特別是一些經(jīng)驗(yàn)不是特別豐富的軟件工程師們?cè)陂_(kāi)發(fā)的過(guò)程中很少去質(zhì)疑硬件問(wèn)題,所以一言不合就從嵌入式軟件開(kāi)始排查,同時(shí)也有許多硬件伙計(jì)覺(jué)得軟件可以優(yōu)化非常多的硬件問(wèn)題。所以嵌入式軟件沒(méi)有一定經(jīng)驗(yàn)在調(diào)試硬件問(wèn)題會(huì)比較難受,那么對(duì)于電源這塊能量的核心,主要是電壓、功率和穩(wěn)定性等。大部分芯片都會(huì)有一個(gè)穩(wěn)定運(yùn)行的電壓范圍,過(guò)高或者過(guò)低都有可能導(dǎo)致運(yùn)行異常,注意是可能,不是一定,甚至同一個(gè)型號(hào),不同批次的芯片都有所差異~所以功率不夠,電壓過(guò)低會(huì)導(dǎo)致芯片內(nèi)外供電不夠,使得相應(yīng)模塊、外設(shè)運(yùn)行異常,最終程序死機(jī)、跑飛是經(jīng)常發(fā)生的。特別是整個(gè)系統(tǒng)的功率需求并不是特別穩(wěn)定,且電源的設(shè)計(jì)并沒(méi)有太多的余量,當(dāng)出現(xiàn)比如動(dòng)作繼電器等等功耗較大的動(dòng)作時(shí),其電源就有可能出現(xiàn)不穩(wěn)定狀態(tài),最終影響到芯片運(yùn)行。當(dāng)然如果你是購(gòu)買的劣質(zhì)或者參數(shù)虛標(biāo)的電源,就要更多的去測(cè)試和監(jiān)控一下電源的穩(wěn)定程度了。所以bug菌目前親自開(kāi)發(fā)的項(xiàng)目,在項(xiàng)目的設(shè)計(jì)評(píng)審初期,會(huì)要硬件多留一個(gè)MCUAD采樣電路用來(lái)實(shí)時(shí)采集供電電壓等,軟件內(nèi)部做一些快速的電壓保護(hù)或者故障偵測(cè),以檢測(cè)出大部分電源異常問(wèn)題。

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復(fù)位電路干擾

相比電源問(wèn)題會(huì)少一些,不過(guò)也遇到過(guò)幾次,大部分都是板子剛打樣回來(lái)上電調(diào)試的時(shí)候,MCU直接不運(yùn)行的情況,大多都是復(fù)位電路中的電阻或者電容貼錯(cuò)了,虛焊了等等;如果是采用復(fù)位芯片的大多估計(jì)供電不足,選型有問(wèn)題等等。不過(guò)有一次遇到是在PCB走線上,復(fù)位電路與功率部分挨得比較近導(dǎo)致MCU概率性復(fù)位,當(dāng)然如果有使用外部看門狗的話就更需要排查一下了。

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晶振失效或受干擾

晶振本身失效或者受干擾,一般MCU都會(huì)選擇外部晶振,相比內(nèi)部的會(huì)更加準(zhǔn)確一些。然而對(duì)于這個(gè)MCU的心臟也是有概率出問(wèn)題的,之前有個(gè)項(xiàng)目采用定時(shí)測(cè)量時(shí)間,每次測(cè)量信號(hào)的誤差都是忽大忽小,后來(lái)直接把捕獲的信號(hào)用IO信號(hào)翻轉(zhuǎn)出來(lái)與實(shí)際信號(hào)進(jìn)行對(duì)比,發(fā)現(xiàn)并無(wú)差異,才定位到是計(jì)時(shí)這塊的頻率出了問(wèn)題,最終定位外部晶振電路存在干擾,導(dǎo)致時(shí)鐘頻率發(fā)生變化,最終影響測(cè)量結(jié)果,如果干擾再大一些估計(jì)就跑飛宕機(jī)了。對(duì)于當(dāng)出現(xiàn)了一些死機(jī)或者計(jì)時(shí)不準(zhǔn)的問(wèn)題,不僅僅要看軟件,也要從硬件晶振時(shí)鐘這塊進(jìn)行排查,所以對(duì)于目前主流的一些MCU都會(huì)存在時(shí)鐘頻率輸出的引腳,一方面是用來(lái)供外部進(jìn)行內(nèi)部時(shí)鐘的監(jiān)控,另外一個(gè)應(yīng)用就是進(jìn)行不同芯片之間時(shí)鐘上的同步。

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最后幾小點(diǎn)

最后,靜電問(wèn)題說(shuō)實(shí)在的在開(kāi)發(fā)中真的是虛無(wú)縹緲的存在,曾經(jīng)一個(gè)伙計(jì)徒手換芯片,10個(gè)芯片換上去,壞了一半,大概率是因?yàn)樘鞖獗容^干燥,用手觸碰了幾下芯片,后來(lái)硬件人手準(zhǔn)備一套裝備~同時(shí)在系統(tǒng)中與MCU沒(méi)有隔離的IO口,通信等等都要做好保護(hù),這些對(duì)外的接口會(huì)把靜電、或者是浪涌電壓等引入MCU內(nèi)部,使得MCU內(nèi)部邏輯混亂導(dǎo)致死機(jī)。高速運(yùn)行的MCU會(huì)受外界輻射等電磁干擾,做好一些屏蔽措施等。基本上遇到的MCU死機(jī)或者復(fù)位暫時(shí)就總結(jié)這么多吧,以后再想到一些再寫寫~

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